手持式X荧光光谱合金分析仪

手持式X荧光光谱合金分析仪，满足不同行业的测试需求，广泛应用于废旧金属回收、PMI鉴别（合金材料鉴别）、生产制造QA/QC控制、流体加速腐蚀、贵金属分析等各行业领域中对于金属材料的含量测试、牌号判别、材料分类、质量控制等。

Niton XL2 GOLDD 系列

u 大面积SDD探测器，采用优化几何设计，灵敏度更高，检测限更低，分析速度更快，对于金属中的夹杂物及痕量元素具有杰出的分析性能。

在不充氦气或非真空条件下，具有Mg, Al, Si, P, S等轻元素检测能力。

1.速度快，操作简单 ，“开机启动—瞄准测试—察看结果”，整个分析过程仅需数秒便可完成，合号鉴别只需1~2秒钟，操作简单，即使非技术人员也可轻松掌握 。

2.采用X射线荧光光谱，可方便、快速、准确、*无损地测量材料中从Mg到U之间的所有元素，同时显示标准偏差。对合号的鉴定不超过3秒，对合金成分分析不超过10秒。

3.多元素定性/定量分析，可以对样品中多种元素同时进行定性定量分析，对样品无要求，可分析固体，粉末，液体各种形态的样品。针对合金样品可达到接近实验室级的分析水平，可直观显示合号和元素百分比含量（某些元素可显示到小数点后三位）及ppm含量。